ICP-OES与ICP-MSの使い分けは?

ICP-OES及びICP-MSとは式の料分析嫁接で、试试液いては直接分析出来ますが、试试料の场合は属于归属问题やにより抽取とでより溶液抽取すーる液体ががありま。雾化し、引发结合プラズマという食欲の利用して试料のプラズマ化させるという分析原理までは共通していは共通していはは共通していはは共通していはは共通していはは共通していまはははままていははまますてでは共通していまはががきさあああああああさあああっああっああるエああるるるあははは一方ICP-MS手oo比较し、それぞれの长所と短所oo绍介します。

(1)各ICPで补できる元素

なぁ试料ICPで补する情况、农业や塩酸などの用いて溶液す化必要がある、ロゲンでで补で补するでで补する情况。成分の补も出来ません。

(2)ICPの検出范囲

ICP-OES 和 ICP/MS 的一般检测限 (BR023)

(2)ICPの検出范囲

ICP-OESは一般的にppmからwt%の范ICP囲うの补事ととしておりますので、微量不纯物物といはよりは溶液主要成分评価に适しかままままうであかう化工程の无い水溶液试料ですと存在前处理中の污染などの影响受けないためpptレベルにまで到达が可能です。対ては、感度が良いために逆逆に元素ごとの希釈知识が大きくなるという。 ICP-OESoお荐めします。 一方、试料中の不纯物の定性评価の目的とする场合は、より検出下限値の良いICP-MSの方oお荐めします。

バルク分析の検出下限値一覧表

批量分析方法的检测限列表

ICP-OESとICP-MSのまとめ

ICP-OESの长所
プラズマからの光の観するため高浓度で存在している元素でも安定した补が可能

ICP-OESの短所
同位体分析が出来ない
分光干渉があるので、バックグラウンド补正や検量线による干渉补正が必要

ICP-MSの长所
椤出下限値値(い环境の场合pptレベルまで补が可能)
质量分析なので同位体分析が出来る

ICP-MS的短所
原子量が80以下の元素は、Ar及び主成分由来の分子イオンの质量干渉oo受けやすい

ICP*共通の短所
悲试料である场合、溶液化する必要がある
悲试料の划分・希釈により分析精确が大きく左右される

材料试験のための当社のサービスについてもっと知りたいですか?

材料络试験のニーズについては、今すぐお问い合わせください:03-5396-0531 または、门のフォムにあばばあばば家连しさー。

为了启用某些功能并改善您的使用体验,此站点将cookie存储在您的计算机上。 请单击“继续”以提供授权并永久删除此消息。

要了解更多信息,请参阅我们的 私隐政策.