应用笔记
讨论
使用特殊的样品制备技术和新的 SIMS 在分析方案中,可以分析SiC粉末样品中尺寸范围为100 um至500 um的单个SiC颗粒。 这种创新方法消除了捐款 表面污染 大量浓缩。
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