个人S的SIMS分析i用于精确体积浓度测量的C颗粒

应用笔记

讨论

使用特殊的样品制备技术和新的 SIMS 在分析方案中，可以分析SiC粉末样品中尺寸范围为100 um至500 um的单个SiC颗粒。 这种创新方法消除了捐款 表面污染 大量浓缩。