低温透射电子显微镜(Cryo-TEM)

Cryo-TEM涉及进行透射电子显微镜TEM分析,同时将样品保持在低温温度,即-170℃(或103 K)。

透射电子显微镜(TEM) 是一种使用电子束对样品成像的技术。 高能电子(80keV-200keV)通过电子透明样品(~100nm厚)透射并在平面上成像。

使用低温的主要原因是

  • 对薄的冷冻悬浮液切片的研究,允许对处于分散状态的颗粒进行形态学研究。
  • 通过电子束减少样品加热,从而减少敏感材料的潜在束损伤
  • 研究结晶材料的低温相

使用Vitrobot TM样品制备工具,专用的低温样品转移单元和低温TEM样品架实现薄(~100 nm)切片冷冻水分散体('玻璃化冰层')的生产。

低温TEM的理想用途

  • 脂质体,聚合物囊泡,乳液的胶体分散体
  • 分散体中粒子聚集的研究
  • 电子束敏感样品
  • 低温晶相研究

我们的强项

  • 允许在水分散体中成像近自然状态的软物质
  • 允许对太光束敏感的材料进行成像

限制

  • 水分散体的样品制备需要针对不同样品类型进行方法开发,因为它非常依赖于颗粒浓度,颗粒大小和材料粘度
  • 玻璃化冰层的样品厚度由粒径决定。 因此,样品的透明度限制了几百纳米的粒径
  • 能量色散X射线光谱(EDS)分析的分析时间受到限制,因为即使在低温下,冷冻水层的光束引起的升华也是如此

低温TEM技术指标

  • 检测到的信号: 传输电子
  • 检测到的元素: BU(带EDS)
  • 检测限: 1 at%
  • 成像/制图: 是(使用EDS)

为了启用某些功能并改善您的使用体验,此站点将cookie存储在您的计算机上。 请单击“继续”以提供授权并永久删除此消息。

要了解更多信息,请参阅我们的 私隐政策.