光学轮廓仪(OP),也称为 白光干涉仪 (WLI)是一种基于非接触式干涉测量的表面形貌表征方法。 典型的光学轮廓仪分析提供2D和3D图像 表面分析,许多粗糙度统计数据和特征维度。 除了这些标准测量之外,EAG 还可以使用我们最先进的 Bruker Contour GTX-8 3D 和 NPFlex 光学仪器执行许多高级光学轮廓分析。 这些包括:
光学轮廓仪是该仪器成像部分的一部分 智能图表
OP适用于多种应用和样品类型,因为它可以容纳许多样品几何形状,提供各种可能的分析尺寸和多功能Z系列,涵盖广泛的潜在表面粗糙度。 EAG致力于与客户合作,利用我们的3D光学显微镜功能,开发出独特的方法,用于表征最具挑战性的样品的形貌。
为了启用某些功能并改善您的使用体验,此站点将cookie存储在您的计算机上。 请单击“继续”以提供授权并永久删除此消息。
要了解更多信息,请参阅我们的 私隐政策.