扫描声学显微镜(SAM) 使用声波来检测和识别设备,组件和材料内部的分层,空隙,材料密度变化,缺陷和许多其他异常。
SAM对分层和材料密度变化的存在高度敏感,使用X射线照相术,红外成像和其他非破坏性技术难以检测。 它可以检测亚微米气隙,并具有缺陷分辨率 ~5μm。
EAG提供各种成像模式,允许操作员根据样品中特征的方向获得最佳观察视角。 此外,EAG的SAM系统结合了先进的软件,硬件功能和各种传感器,使EAG能够为我们的客户提供市场上最好的成像。
理想用途和关键失败机制
关键检查应用
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