扫描声学显微镜

扫描声学显微镜（SAM）使用声波来检测和识别设备，组件和材料内部的分层，空隙，材料密度变化，缺陷和许多其他异常。

SAM对分层和材料密度变化的存在高度敏感，使用X射线照相术，红外成像和其他非破坏性技术难以检测。它可以检测亚微米气隙，并具有缺陷分辨率 ^~5μm。

EAG提供各种成像模式，允许操作员根据样品中特征的方向获得最佳观察视角。此外，EAG的SAM系统结合了先进的软件，硬件功能和各种传感器，使EAG能够为我们的客户提供市场上最好的成像。