时域反射计(TDR)

包装部件中反射信号的定时测量。 与已知良好部分的比较建立了失效部分的偏差点。 用于识别基板,互连或芯片的故障位置。

可以光学检查封装中的每个层并电探测。

TDR ON BGA,两个针检查

时域反射计(TDR)可以光学检查封装中的每个层并进行电探测。
时域反射计(TDR)可以光学检查封装中的每个层并进行电探测。
时域反射计(TDR)可以光学检查封装中的每个层并进行电探测。

TDR ON BGA,两个针检查

移除顶层基板

时域反射计(TDR)去除顶层基板
时域反射计(TDR)去除顶层基板

TDR ON BGA,两个针检查

去除最后一层基板

时域反射计(TDR)去除最后一层基板
时域反射计(TDR)去除最后一层基板

 

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