粒子诱导的X射线发射(PIXE)

粒子诱导的X射线发射(PIXE)是由于高能离子轰击而从样品发射的X射线的测量。 几种激发光束产生具有目标元素特征的X射线。 光子激发(通过X射线)产生X射线荧光光谱。 扫描电子显微镜或电子探针中的电子激发提供能量色散或波长色散X射线光谱(取决于X射线色散和检测方法)。 He的带电粒子束2+ 或者H.+ 导致PIXE光谱学。 在所有三种情况下,当外壳电子改变状态以填充内壳空位时,激发光束去除核心电子并且以特定能量发射X射线。 发射的X射线能量与激发过程无关,但是是存在的元素的特征。

该附件可用于重元素识别 苏格兰皇家银行 仪器。 由于它们的质量相似,这些重元素在RBS反向散射能量方面可能只有很小的差异,但它们在PIXE光谱中可能有明显的差异。 PIXE作为分析技术具有几个优点。 它是非破坏性的,并提供类似于其电子束对应物的信号电平,但具有更好的信号背景比。 电子光谱学的背景来自bre致辐射,因为He,它基本上不存在2+ 或者H.+ 离子,即使在PIXE能量下,也具有比电子低得多的速度。 与电子诱导光谱相比的另一个优点是,与RBS一样,PIXE与绝缘样品一起使用。

PIXE的理想用途

  • 识别/定量仅靠RBS无法解决的重元素

我们的强项

  • 快速,便捷,互补的RBS技术
  • 提供类似于电子束感应信号的信号电平,但具有更好的信噪比

限制

  • 分析面积大(〜1 – 2 mm)
  • 有用的信息仅限于约1μm的样品

PIXE技术规格

  • 检测到信号: 背散射的He原子
  • 检测到的元素: Al – U
  • 检测限: 0.1 – 10 at%
  • 深度分辨率: 没有
  • 成像/制图: 没有
  • 横向分辨率/探头尺寸: 〜1 – 2毫米

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