Electron Backscatter Diffraction (EBSD)은 시료의 결정학 특성을 특성화하는 데 독보적 인 기술입니다. 입자 크기, 입자 형상, 입자 방향, 입자 경계 방향 오류, 위상의 공간 분포, 국부 변형 및 질감과 같은 속성은 모두이 기술로 특징 지어 질 수 있습니다.
EBSD 분석은 우리의 우수한 기능을 크게 보완합니다. X 선 회절 (XRD) 서비스. 당사의 XRD 도구 및 직원은 위상 ID, 나노 결정립 크기, 박막 두께 및 텍스처에 대한 탁월한 정보를 제공 할 수 있지만, EBSD가 제공하는 새로운 기능을 통해 공간 정보를 제공하고 미세 구조를 시각화하고 결정 성 샘플에 대한 완벽한 설명을 추가 할 수 있습니다.
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