翘曲分析

原位翘曲和变形测量

什么是翘曲分析?

翘曲分析允许测量产品在热应力下的翘曲和变形,并产生 3D 地形轮廓。 我们的新服务可以在产品生命周期的各个阶段提供帮助,包括研发、过程控制、制造设计、质量控制和故障分析

设备或 PCB 中的热膨胀系数 (CTE) 不匹配会导致回流过程中的变形或正常操作期间的热膨胀,从而导致互连故障。

Insidix的TDM技术

EAG实验室已与 Insidix 提供我们的Compact-3 Sunnyvale,加利福尼亚,设施。 该 TDM 工具使用条纹投影技术以非接触式全场采集具有亚微米分辨率的 3D 地形。 TDM 技术使我们的客户能够了解和预测电子设备在回流或产品的整个生命周期等工艺步骤中翘曲变化的可能性。 分析样品后,TDM 软件以 3D 绘图、矢量图和 2D 剖面的形式提供直观的结果。 TDM 目前符合以下标准,随着我们继续与客户合作,将添加更多标准:

  • JEDEC 22B112A
  • IPC / JEDEC J-STD-020D
  • MIL-STD-883G
翘曲分析Insidix TDM Compact-3
通过光学测量进行翘曲分析

TDM 技术使用相移投影莫尔条纹来提供基于结构光投影的可扩展的高分辨率和快速的全场光学测量。 该系统包括双面红外线加热器,可提供三维均匀性和快速升温。

翘曲分析能力

  • 温度剖面上的3D地形测量
  • 亚微米分辨率
  • 温度范围为 -65°C 至 400°C,使用高均匀性 IR 和对流源
  • 从0.5×0.5到400×500 mm的样品具有多尺度FOV
  • 能够测量不连续的表面(例如,PCBA上的多个组件)

温度曲线上的3D测量

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