电子背散射衍射 (EBSD) 是一种特别适合表征样品晶体学特性的技术。 诸如:晶粒尺寸、晶粒形状、晶粒取向、晶界错误取向、相的空间分布、局部变形和织构等特性都可以通过该技术表征。
EBSD分析是我们卓越能力的有力补充 X射线衍射(XRD) 服务。 我们的XRD工具和工作人员可以提供有关相ID,纳米晶粒度,薄膜厚度和纹理的无与伦比的信息; EBSD 提供的新功能将提供空间信息,帮助可视化微观结构并添加到您的晶体样品的完整描述中。
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