기술 개발에서 VCSEL의 중요성

무선 마우스가 효율적이고 사용하기 쉽습니까? 얼굴 인식 기술을 사용하여 얼마나 자주 휴대전화의 잠금을 해제합니까? 빠른 인터넷 액세스를 즐기십니까? 자동 운전을 기대하십니까? VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Lasers)을 사용하지 않았다면 이러한 기술 발전은 불가능했을 것입니다.

VCSEL의 역사

VCSEL은 1996년에 처음 상용화되었습니다. 지난 20년 이상의 응용 프로그램의 예로는 광섬유, 레이저 프린터, 컴퓨터 마우스, 야간 투시경 카메라 등의 고속 데이터 통신이 있습니다. 최근에는 VCSEL이 LIDAR(광 이미징 감지 및 범위 지정), 3D 감지 및 얼굴 인식. VCSEL은 더 높은 변조 속도, 웨이퍼 상의 테스트 및 표면에 수직으로 배향된 대칭 방출 패턴의 방출과 같은 몇 가지 장점이 있습니다. 이러한 형태의 방출은 다른 광학 부품에 결합하는 데 이상적입니다.1

VCSEL에 관한 모든 것

VCSEL의 특성화는 쉽게 이루어지지 않았으며 시간이 지남에 따라 발전해 왔습니다. 응용 프로그램과 관련된 가장 큰 문제 중 하나는 2 차 이온 질량 분석법 (SIMS) AlGaAs/GaAs VCSEL의 분석은 도펀트 원소의 정량화에 영향을 미치는 알루미늄 함량의 변화입니다. 즉, 정량 분석에는 % 알루미늄이 변하는 층의 도펀트 농도 및 층 두께에 대한 정교한 보정이 필요합니다. 의 발전으로 PCOR-SIMSSM  EAG 과학자들은 이러한 문제를 경험적으로 파생된 분석 기능을 사용하여 잘 알려진 'SIMS 매트릭스 효과'를 수정함으로써 해결했습니다.1

EAG 과학자, VCSEL 분석을 위한 솔루션 혁신

고객과의 긴밀한 상호 작용을 통해 Eurofins EAG(EAG) 과학자들은 낮은 농도의 원치 않는 오염 물질 종의 중요도를 알게 되었습니다. 이러한 불순물은 매우 낮은 농도(≤ppm)에서도 장치 성능이나 수명에 해로울 수 있습니다. 이로 인해 EAG 과학자들은 신뢰할 수 있는 오염 평가를 수행할 수 있도록 기록 수준의 검출 한계를 달성하기 위해 특수 기기 및 분석 프로토콜을 개발하게 되었습니다. 가장 일반적인 불순물은 수소, 산소, 황 및 구리이며 계면 또는 결정 결함 영역에서 오염 스파이크로 존재할 수 있습니다. 오염원을 분리하고 제거하려고 할 때 층 성장 순서에서 이러한 불순물 스파이크의 정확한 위치를 아는 것도 중요합니다. 따라서 SIMS 데이터 수집 중에 불순물 원소와 정확한 동기화로 획득한 매트릭스 마커의 적절한 선택이 중요합니다.

마지막으로 PCOR-SIMSSM 또한 빛이 생성되는 구조의 활성 영역에 대한 자세한 통찰력을 제공할 수 있습니다. PCOR-SIMSSM 깊이가 있는 알루미늄 프로파일의 농도 구배, MQW 층 평가 및 nm 분해능을 사용한 도펀트 또는 불순물 분석을 모두 성장된 Al 조성의 전체 범위에 걸쳐 정량적 정확도로 나타낼 수 있습니다.

EAG에서 우리는 VCSEL 구조를 면밀히 조사하고 분석하는 데 도움을 드릴 준비가 되어 있습니다. 우리는 합금 조성 프로파일, DBR 도펀트 프로파일 및 활성층과 관련된 다양한 복잡한 세부 사항의 중요성을 이해합니다. 문의하기 오늘 VCSEL과 관련된 당사의 분석 기능에 대해 자세히 알아보십시오.

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