미세 분석을 위한 LA-ICP-MS 이해
과학의 세계와 그 모든 경이로움은 끊임없이 진화하고 성장하고 있습니다. 미생물과 마이크로칩에서 행성 간 여행에 이르기까지 과학은 삶의 질을 개선하고 주변 세계를 이해하기 위해 계속해서 발전하고 더 많은 가능성을 열어주고 있습니다. 보통 사람은 제품을 보고 제품이 어떻게 만들어졌는지, 어떤 요소가 있는지, 기능이 어떻게 작동하는지 고려하지 않고 대신 편리하고 신뢰할 수 있는 제품을 감사하게 여깁니다. 그러나 제조업체는 제품의 안전과 기능을 보장하기 위해 제품의 모든 측면을 이해해야 합니다. 더 작고 빠른 세상에서 의사 결정을 내리기 위해서는 관련성 있고 신뢰할 수 있는 데이터를 얻는 것이 중요합니다. 때로는 미시적 수준에서 제품을 분석해야 할 필요가 있습니다. 이러한 이해를 얻으려면 다음과 같은 전문적인 방법과 기술이 필요합니다. 레이저 절제 유도 결합 플라즈마 질량 분석기(LA-ICP-MS).
LA-ICP-MS란?
레이저 제거는 학문적 지구화학 응용을 위해 1980년대에 발명된 미세 분석 고체 시료 도입 방법입니다. 레이저 절제는 과도 현상을 생성합니다.
공간적으로 표적화된 애플리케이션을 위한 신호. Laser ablation은 최소한의 샘플 준비(분해 또는 희석 없음)가 필요한 빠르고 깨끗하며 친환경적인 기술로 실험실에서 시간을 절약합니다. 이것은 또한 훨씬 더 적은 오염 기회와 동일합니다. 마지막으로, 산성 시약의 부족은 레이저 절제를 용액 화학보다 훨씬 친환경적으로 만듭니다. 레이저 절제는 일반적으로 다음과 쌍을 이룹니다. 유도 결합 플라즈마 질량 분석기(ICP-MS). 따라서 LA-ICP-MS는 직접 마이크로 스케일 샘플링을 사용하여 고체 물질의 고정밀 원소 특성을 제공하는 분석 기술입니다. 이 기술은 준비 없이 많은 고체 물질에 대해 분석을 수행할 수 있으므로 매우 다용도입니다.
LA-ICP-MS의 이상적인 용도는 고체의 원소 조사, 추적성 분석, 원소 분포 분석 및 매핑, 국소 포함 및 결함 분석, 깊이별 화학 분석입니다. 컴퓨터 칩 및 인쇄 회로 기판, 의료 기기용 구성 요소, 산업용 코팅 및 리튬 이온 배터리 또는 매우 작은 구조를 가진 모든 제조업체는 종종 EAG 과학자를 활용하여 제품을 더 잘 이해하기 위해 이 분석을 수행합니다.
LA-ICP-MS 분석을 위해 EAG 과학자와 협력
고급 재료의 물리적 구조를 이해하는 것과 관련하여 다른 과학 서비스 회사는 EAG Laboratories에서 찾을 수 있는 광범위한 경험이나 기술적 독창성을 제공하지 않습니다. EAG는 고객이 혁신을 가속화하고 품질과 안전을 보장하며 지적 재산을 보호할 수 있도록 문제 해결 전문 지식을 지속적으로 제공합니다. 당사의 과학자들은 전기 전도도와 무관하게 정성, 반정량 및 완전 정량 데이터를 포함하여 파괴적인 샘플 준비를 최소화하거나 전혀 하지 않고 대부분의 고체 물질에 대한 직접적인 원소 분석을 제공합니다.
고체 시료의 특정 기능을 대상으로 해야 하거나 용액 ICP-MS에 비해 너무 작은 시료의 대량 조성 분석이 필요한 경우, EAG에 연락 레이저 절제가 귀하의 프로젝트에 적합한지 확인합니다. 고정 스팟 절제는 ~20 µm의 작은 기능을 분석할 수 있는 반면 샘플의 복제 스캔 라인 절제는 벌크 솔루션 분석을 근사화하는 데 사용할 수 있습니다. Laser ablation은 또한 용액 ICP-MS 또는 기타 파괴적 준비 기술로 더 일반적으로 분석할 수 있지만 고유 가치 때문에 최소 침습적 분석이 필요한 재료에 적합합니다.예를 들어, 유물, 법의학 증거, 보존을 위한 참고 표본). LA-ICP-MS 및 제공할 수 있는 분석 정보에 대해 자세히 알아보려면 EAG 과학자와 협력하십시오.
