미세 분석을 위한 LA-ICP-MS 이해

과학의 세계와 그 모든 경이로움은 끊임없이 진화하고 성장하고 있습니다. 미생물과 마이크로칩에서 행성 간 여행에 이르기까지 과학은 삶의 질을 개선하고 주변 세계를 이해하기 위해 계속해서 발전하고 더 많은 가능성을 열어주고 있습니다. 보통 사람은 제품을 보고 제품이 어떻게 만들어졌는지, 어떤 요소가 있는지, 기능이 어떻게 작동하는지 고려하지 않고 대신 편리하고 신뢰할 수 있는 제품을 감사하게 여깁니다. 그러나 제조업체는 제품의 안전과 기능을 보장하기 위해 제품의 모든 측면을 이해해야 합니다. 더 작고 빠른 세상에서 의사 결정을 내리기 위해서는 관련성 있고 신뢰할 수 있는 데이터를 얻는 것이 중요합니다. 때로는 미시적 수준에서 제품을 분석해야 할 필요가 있습니다. 이러한 이해를 얻으려면 다음과 같은 전문적인 방법과 기술이 필요합니다. 레이저 절제 유도 결합 플라즈마 질량 분석기(LA-ICP-MS).

LA-ICP-MS란?

레이저 제거는 학문적 지구화학 응용을 위해 1980년대에 발명된 미세 분석 고체 시료 도입 방법입니다. 레이저 절제는 과도 현상을 생성합니다.

LA-ICP-MS

공간적으로 표적화된 애플리케이션을 위한 신호. Laser ablation은 최소한의 샘플 준비(분해 또는 희석 없음)가 필요한 빠르고 깨끗하며 친환경적인 기술로 실험실에서 시간을 절약합니다. 이것은 또한 훨씬 더 적은 오염 기회와 동일합니다. 마지막으로, 산성 시약의 부족은 레이저 절제를 용액 화학보다 훨씬 친환경적으로 만듭니다. 레이저 절제는 일반적으로 다음과 쌍을 이룹니다. 유도 결합 플라즈마 질량 분석기(ICP-MS). 따라서 LA-ICP-MS는 직접 마이크로 스케일 샘플링을 사용하여 고체 물질의 고정밀 원소 특성을 제공하는 분석 기술입니다. 이 기술은 준비 없이 많은 고체 물질에 대해 분석을 수행할 수 있으므로 매우 다용도입니다.

LA-ICP-MS의 이상적인 용도는 고체의 원소 조사, 추적성 분석, 원소 분포 분석 및 매핑, 국소 포함 및 결함 분석, 깊이별 화학 분석입니다. 컴퓨터 칩 및 인쇄 회로 기판, 의료 기기용 구성 요소, 산업용 코팅 및 리튬 이온 배터리 또는 매우 작은 구조를 가진 모든 제조업체는 종종 EAG 과학자를 활용하여 제품을 더 잘 이해하기 위해 이 분석을 수행합니다.

LA-ICP-MS 분석을 위해 EAG 과학자와 협력

고급 재료의 물리적 구조를 이해하는 것과 관련하여 다른 과학 서비스 회사는 EAG Laboratories에서 찾을 수 있는 광범위한 경험이나 기술적 독창성을 제공하지 않습니다. EAG는 고객이 혁신을 가속화하고 품질과 안전을 보장하며 지적 재산을 보호할 수 있도록 문제 해결 전문 지식을 지속적으로 제공합니다. 당사의 과학자들은 전기 전도도와 무관하게 정성, 반정량 및 완전 정량 데이터를 포함하여 파괴적인 샘플 준비를 최소화하거나 전혀 하지 않고 대부분의 고체 물질에 대한 직접적인 원소 분석을 제공합니다.

고체 시료의 특정 기능을 대상으로 해야 하거나 용액 ICP-MS에 비해 너무 작은 시료의 대량 조성 분석이 필요한 경우, EAG에 연락 레이저 절제가 귀하의 프로젝트에 적합한지 확인합니다. 고정 스팟 절제는 ~20 µm의 작은 기능을 분석할 수 있는 반면 샘플의 복제 스캔 라인 절제는 벌크 솔루션 분석을 근사화하는 데 사용할 수 있습니다. Laser ablation은 또한 용액 ICP-MS 또는 기타 파괴적 준비 기술로 더 일반적으로 분석할 수 있지만 고유 가치 때문에 최소 침습적 분석이 필요한 재료에 적합합니다.예를 들어, 유물, 법의학 증거, 보존을 위한 참고 표본). LA-ICP-MS 및 제공할 수 있는 분석 정보에 대해 자세히 알아보려면 EAG 과학자와 협력하십시오.

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