오염 물질 확인

예기치 않거나 해결되지 않은 오염은 제조 공정에 심각한 영향을 줄 수 있으므로 신속하게 이해하고 제어하는 것이 중요합니다. EAG 과학자들은 신청 전문가입니다. 재료 특성화 오염원을 찾고 식별하고, 오염원을 확인하고, 오염물 제거 / 세정의 효과를 측정하는 기술.

적절한 기술이나 분석 방법을 선택하는 것은 오염 사건의 상황에 달려있다. 오염 물질의 성질과 분석 목적.

오염 물질은 유기물이나 무기물 일 것으로 예상됩니까?
다량의 오염이 예상 되는가 아니면 단지 약간입니까?
오염이 광범위하거나, 국지화되거나, 미립자가 될 것으로 예상됩니까?
표면, 특정 층, 계면 또는 재료의 대부분에있을 것으로 예상됩니까?
추적 수준이 중요합니까 아니면 오염 물질의 존재가 일정 수준 이상일 수 있습니까?
오염원이 나타나는 방식과 관련하여 시간 또는 위치에 따른 측면이 있습니까?

종종 알려지지 않은 오염 물질을 완전히 식별하기 위해 전략적이고 기술적 인 다 분야 접근 방식이 필요합니다. 대조군과 의심되는 샘플 간의 비교 연구를 사용하는 것도 도움이 될 수 있습니다 (또는 필수). 구체적인 기술적 접근 방식은 샘플 매트릭스와 의심되는 오염 수준에 따라 다릅니다. 식별이 완료되면 EAG 과학자들은 다른 방법이나 기존 데이터의 정량화를 통해 시료 매트릭스의 오염 물질을 더 정량화 할 수 있습니다.

일반적인 오염 테스트 및 식별 프로젝트에는 냄새 / 풍미 조사, 색 상 이상 문제 또는 제품의 이물질이 포함되어 있습니다. 일부 오염원은 환경, 제품의 부적절한 보관 또는 품질이 낮은 원자재로 인해 발생합니다. 우리는 고객과 긴밀하게 협력하여 오염원을 추적하고 현실적인 시정 조치 프로그램을 개발합니다.

아래에 열거 된 것들은 많은 종류의 오염과 그 문제를 다루는 잠재적 인 관심 기술들입니다. 오염의 유형은 사용 된 기술이 성공적인지 여부를 결정할 수 있습니다. 경우에 따라서는 특히 오염에 대해 거의 알려지지 않았거나 구성 요소가 혼합 된 경우 기술 조합이 필요할 수 있습니다.

입자 : SEM, EDS, 오거, FTIR, 라만, TOF-SIMS
잔류 물 : 오거, FTIR, XPS, TOF-SIMS
변색 / 얼룩 : XPS, 오거, TOF-SIMS, FTIR
헤이즈 : SEM, AFM, OP, TOF-SIMS, XPS
층 : SEM-EDS, XPS, 오거, SIMS, TOF-SIMS
벌크 : XPS, ICP-OES, ICP-MS, GDMS, XRF, FTIR
냄새 : GCMS