扫描电子显微镜（SEM）

扫描电子显微镜（SEM）提供样品表面和近表面的高分辨率和高景深图像。 SEM是最广泛使用的分析工具之一，因为它可以快速提供非常详细的图像。加上辅助能量色散X射线光谱（EDS）探测器，SEM还提供几乎整个周期表的元素识别。

在光学显微镜无法提供足够的图像分辨率或足够高的放大倍数的情况下，EAG使用SEM分析。 SEM还擅长生成详细的表面形貌图像。应用包括故障分析，尺寸分析，过程表征，逆向工程和颗粒识别。

EAG的专业知识和经验范围对于我们所服务的行业和客户而言是无价的。面对面的服务确保了结果及其含义的良好沟通。分析期间经常有客户在场，从而可以立即共享数据，影像和信息。