원자 수준에서 레이어를 측정하기 위한 고해상도 활용

대부분의 역사가들은 우리가 세 번의 산업 혁명을 겪었다고 생각합니다. 18세기 말에 XNUMX차 혁명이 일어났다.th 세기에서 19년 초까지th 기계화를 중심으로 물과 증기를 사용하여 생산을 기계화했습니다. 19년 말을 향하여th 세기에 20차 혁명이 일어났고 세계는 전기, 가스, 석유와 같은 새로운 에너지원으로 엄청난 기술 발전을 경험했습니다. XNUMX년 하반기에는th 세기 XNUMX차 혁명은 전자, 통신 및 컴퓨터의 부상으로 나타납니다. 어떤 사람들은 우리가 이제 전자 제품이 더 작고, 더 빠르고, 더 강력해짐에 따라 XNUMX차 혁명인 디지털 혁명으로 진입하고 있다고 믿습니다. 이러한 새로운 기술 발전으로 인해 고해상도 분석이 훨씬 더 큰 역할을 합니다.

고해상도의 이해

고심도 분해능은 샘플에서 원자 수준까지 매우 얇은 층을 연구하는 기능입니다. 이를 통해 제조업체는 제품의 가장 작은 레이어가 무엇으로 만들어졌는지 알 수 있습니다. 이것은 컴퓨터 칩, 휴대폰의 트랜지스터(열 발산에 도움이 됨), 고속 전자 및 통신, 디스플레이와 같은 기술에 중요합니다.

고해상도

원자 수준에서 연구하기 위해 심도 분해능 사용

기술의 소형화 및 개선으로 인해 재료가 제대로 작동하고 기본적으로 기능을 수행하는지 확인하기 위해 재료를 이해하고 연구할 필요가 있습니다. Eurofins EAG의 과학자들은 높은 깊이 분해능을 사용하여 원자 수준 아래의 샘플 레이어를 연구합니다. 첫 번째, 투과 전자 현미경 (TEM) EAG는 레이어의 구성과 절대 두께를 파악할 수 있습니다. TEM은 다음과 같이 사용될 수 있고 사용되었습니다. 2 차 이온 질량 분석법 (SIMS) 개별 레이어 두께 측정을 보정하기 위한 분석. 두 기술을 결합하면 EAG가 층 구성, 도핑 및 오염 농도, 층 두께에서 일관되고 정확한 결과를 얻을 수 있다는 이점이 있습니다. 표면에서 기판까지 EAG는 또한 화학 및 기계적 연마라고도 하는 사내 특수 샘플 준비 방법을 사용하여 프로젝트에서 덜 관심 있는 표면 층을 제거하여 더 중요한 묻혀 있는 얇은 층에 초점을 맞추는 데 도움이 됩니다.

소비자들이 더 많은 메모리, 더 많은 전력, 더 빠른 제품에 대한 수요를 증가시키면서 동시에 더 작아지기 때문에 이러한 분석은 제품 신뢰성 및 안전성과 계속 관련될 것입니다. EAG는 계속 SIMS 분석의 선두 주자이며 데이터 기반 결과를 생성하기 위해 귀하와 협력할 준비가 된 전문가 팀을 보유하고 있습니다. 제발 오늘 저희에게 연락하십시오. EAG가 귀하와 협력하여 제품을 분석하는 방법을 알아보십시오.

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