표면 분석

EAG 과학자들은 표면 화학 및 기타 표면 특성에 영향을 미치는 다양한 요인을 포함하여 표면 분석 전문가입니다. 표면 정보가 필요한 경우 최상의 결과를 얻기 위해 가장 적절한 분석 접근 방식을 결정합니다. 당사의 실험실은 다양한 표면 분석 및 표면 특성화 기술을 사용하여 표면 적용 범위, 분자 배향, 기능화, 오염 및 표면 분리와 관련된 문제를 조사하고 이해합니다.

표면의 상부 단분자층의 화학적 성질은 표면의 습윤, 생체 적합성, 반응성 및 부착에 극적인 영향을 줄 수 있습니다. 예를 들어, 플라즈마 처리 및 다른 기체 상 처리는 인쇄 또는 접착 단계 전에 중합체 필름의 표면 근처의 화학적 성질을 변경시키는 데 일상적으로 사용된다. 유사하게, 유기 실란 및 티올 - 말단 자기 조립 단분자층을 용액으로부터 도포하여 유리 및 금속의 표면 화학을 개질시킬 수있다.

EAG의 재료 표면 분석 실험실은 접착 및 결합 문제, 표면 청결에 관한 질문 및 재료 표면의 형태 및 지형에 관한 조사를 해결합니다.

접착 및 접착

접착에는 두 개 이상의 표면을 함께 결합하는 것이 포함됩니다. 표면 분석 조사는 접착 및 결합 문제에 초점을 맞출 수 있습니다. 오염 물질이 공정에 유입되거나 접착제 구성 요소가 잘못 공식화되면 실패가 발생할 수 있습니다. 다양한 재료 시스템에 대해 다양한 고장 모드와 고장 원인이 존재할 수 있습니다.

  • 폴리머 패키징, 표면 전처리 및 유기 코팅의 경우 접합 표면 안이나 표면의 오염으로 인해 문제가 발생할 수 있습니다. 접착제를 사용하면 고장이 발생할 수도 있습니다.
  • 마이크로 일랙 트로닉스의 금속 납 불량의 경우, 원인은 불순물, 결합 중에 또는 결합 후에 부착 표면으로 확산되는 산화물 층 또는 매립 된 종으로 인한 것일 수있다.

표면 분석 실험실 조사에서 접착 및 결합 문제의 원인을 밝히려면 표면에 매우 민감한 분석 도구를 사용해야 할 수 있습니다. 가능하면 박리 된 계면의 양면을 검사하여 고장 부위를 조사해야합니다.

청결

표면 청결도를 평가하려면 표면 및 관심 소재에 따라 다양한 측정 방법이 필요할 수 있습니다. 다르게 처리되거나 다른 환경에 노출 된 샘플을 비교하는 것도 포함될 수 있습니다. 테스트 샘플과 컨트롤 또는 레퍼런스 샘플의 차이점은이 방법으로 가장 잘 강조되는 경우가 많습니다. 예를 들어, 매우 민감한 측정은 세정 약품이 제대로 헹구어지지 않아 잔여 물을 남겼음을 나타낼 수 있습니다. 덜 민감한 측정 기술은 잔류 물을 감지하지 못했거나 완전히 식별 할 수있는 신호가 충분하지 않았을 수 있습니다.

청결도를 평가하려면 일반적으로 가능한 오염원을 이해해야합니다.

  • 관심있는 원소 또는 분자 오염 물질이 있습니까?
  • 물질의 존재 유무가 확인되어야 하는가?
  • 관심 종이 아래에 있어야하는 특정 농도 수준이 있습니까?

매우 깨끗한 표면을 조사하려면 요소 종만 탐지하는 총 반사 X- 선 형광 (TXRF) 또는 TOF (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)와 같이 백만 분의 1 범위의 탐지 한계가있는 기술이 필요할 수 있습니다. -SIMS)는 원소 및 분자 종 모두를 조사합니다. 표면의 입자 수를 기준으로 청결도를 측정하는 경우 표면 이미징 및 입자 계수 모두에 대해 주사 전자 현미경 (SEM)을 사용하는 것이 좋습니다.

형태 및 지형

형태학은 표면의 XNUMX 차원 형태를 정 성적으로 평가하는 반면, 지형은 정량적 특징 차원을 제공합니다. 표면 특성화 분석 기법의 선택은 정성 및 / 또는 정량 정보가 필요한지 여부에 따라 다릅니다.

Morphology, or “what a sample looks like,” is best evaluated using imaging techniques, such as optical microscopy or 주사 전자 현미경 (SEM). 이 방법은 또한 층 두께 및 기타 양적 정보를 제공 할 수 있습니다.

거칠기, 계단 높이, 치수 및 피처 크기의 다양한 측정을 포함한 지형은 다음을 사용하여 해결할 수 있습니다. 원자력 현미경 (AFM), 광학 프로파일 법 (OP) 또는 스타일러스 프로파일 법.

오늘 800-366-3867에서 표면 분석 연구소 전문가에게 연락하거나 오늘 양식을 작성하십시오!

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