ATE测试与工程

EAG Laboratories 提供优化的服务,为您带来资源、工具、仪器和 ATE 测试工程人员的才能,帮助您解决半导体测试需求和挑战, 实现目标并完成最后期限。 我们可以提供有限范围的项目或完整的交钥匙解决方案,我们分析数据表并提供全面的测试计划

我们广泛的ATE测试设备和经验丰富的团队可以支持首次硅片调试 大批量生产,适用于从数字到射频的各种产品,包括晶圆分类和封装零件测试。 测试平台包括 Teradyne™ 和 Advantest。

  • 24 x 7工程和生产车间
  • 在线预订系统
  • 庞大且经验丰富的工程,技术和生产支持团队
  • 大量外围设备,临时单元,探测器和处理器

ATE生产服务

  • 广泛的生产服务
    EAG 的生产服务为我们的客户提供低成本、更快的索引时间和改进的测试良率解决方案。 您可以从广泛的可用服务中进行选择,我们将为您的计划提供设备和合格的操作员。 EAG 提供广泛的服务,包括最终测试、晶圆分类、球/铅扫描、测试后标记、卷带、烘烤和干燥包装、质量控制系统、文件管理、存档数据、产量、分档、统计、并为生产提供完整的产品工程支持。 以个性化、本地化为重点的支持可帮助您提高生产力并最大限度降低成本。
  • 广泛的测试人员
    EAG 扩大了我们的 ATE 测试仪器容量,因此我们的客户可以使用他们熟悉的来自 Teradyne™、Advantest 和 Eagle 的测试仪的工具。 EAG 可以满足您测试各种不同封装和引脚数的数字、混合信号和射频设备的需求。 您选择平台,我们将为您提供满足您需求的服务水平。 使用我们的内部团队或使用您自己的工程师。

ATE开发服务

无论您是想要测试单个产品,还是考虑将所有测试服务外包,作为完整的交钥匙解决方案提供商,EAG 都能满足您的要求。 EAG 的专业 ATE 开发服务是全面的,并利用标准化的测试开发模块提供成本效益、效率和快速的开发时间。

我们拥有在高速数字、混合信号、RF 和复杂 SOC 产品方面经验丰富的产品和测试工程师。 我们的内部 PCB 团队可以处理复杂的硬件和负载板设计。 我们从审查产品和数据表开始,根据产品参数和规格确定所需的测试,并在选择合适的测试仪平台之外制定测试计划。

我们可以为您提供以下ATE开发服务:

  • 测试计划开发
  • 负载板设计
  • 测试程序开发
  • 测试程序和设备调试
  • 专家项目管理
  • 新产品的电气特性
  • 测试极限评估
  • 测试时间优化
  • 降低测试成本
  • 矢量转换
  • 多站点转换
  • 平台转换
  • 其他客户定义的项目
泰瑞达测试系统

我们拥有最新的Teradyne测试系统,可满足您的测试需求,包括逻辑,RF,模拟,混合信号和存储技术。 这些系统测试简单的低端设备到复杂的高速/高频IC,这些IC可用于各种终端应用。 FLEX系列测试仪采用了架构,可为各种设备和市场提供效率和灵活性。

我们的泰瑞达测试平台包括:

  • 催化剂RF
  • 的UltraFlex-24
  • IFLEX
  • IP750
  • J750
  • J750EX
  • ETS-364
Advantest测试系统

我们还拥有最新的Advantest测试系统,可帮助您满足测试需求,包括直流,模拟,数字和存储技术。 我们的V93000系统可用于测试简单的低端设备,以及在各种终端应用中运行的复杂高速/高频IC。 V93000基于可扩展的平台架构和模块化设计,可适应不断变化的测试要求,并最大限度地重复使用硬件和测试程序。

我们的Advantest测试平台包括:

  • V93000
  • V93000 Pin Scale
  • V93000 SoC / Smart Scale

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