成分分析和材料鉴定

成分分析和材料识别方法可用于确定未知材料的成分、确认可疑材料的身份以及识别相似材料之间的差异。 未知组件通常可能是难题的根本原因,因此识别意外材料的存在非常重要。 EAG 通过使用单独的和组合的成分分析技术以及专家数据解释,开发了识别和表征未知物的专业知识。

EAG的科学家已经确定了涂料,塑料,食品,消费品,化学品,药品,医疗器械,半导体,消费品,添加剂,粘合剂等中(或上)的多种材料。 我们的实验室已经确定了以下材料:

  • 表面上有未知残留物
  • 未知的粒子
  • 未知的有机和无机材料
  • 意外的外国材料
  • 未知添加剂或表面活性剂

一旦我们确定了材料的化学性质,通过进一步的材料表征就可以更好地理解组成。 有了这些信息,我们能够帮助我们的客户:

  • 确定已识别材料的潜在来源
  • 比较两种不同材料的化学成分
  • 确认可疑材料的身份
  • 从潜在竞争对手或产品的新供应商那里识别材料

成分分析的首选技术取决于许多因素:

  • 对样品有什么了解?
  • 需要量化什么(主要元素、次要元素、化学成分或分子/有机成分)?
  • 这是表面,本体还是层分析?
  • 可以使用破坏性测试方法吗?
  • 样品是否独一无二?

为了了解产品的配方,EAG的逆向工程(变形)服务可帮助客户了解其产品的化学成分。 了解有关变形的更多信息。

表面分析

最好使用具有浅信息深度 (<100 Å) 的定量技术测量元素和化学表面成分,例如 俄歇电子能谱 (仅限导电材料)或 X射线光电子能谱 (所有材料)。

批量分析

散装成分最好通过具有大/深信息深度的技术来确定,这些技术忽略了表面上/表面上的潜在成分变化。 这些方法通常不提供特定于深度的信息。 X射线荧光 (XRF)和 电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES)是可以量化主要和次要元素组分的最相关技术。 傅立叶变换红外光谱 (FTIR)和 拉曼光谱学 非常适合识别塑料,聚合物和其他有机材料。

薄层分析

用于分析薄层和薄膜的技术取决于所需的信息和样品特征。 为了定量薄膜中已知的主要元素, 卢瑟福背散射光谱法 (RBS)是首选技术。 如果感兴趣的电影的主要组成部分未知, X射线光电子能谱 (XPS)是一个不错的选择。 俄歇电子能谱 如果分析区域的尺寸受限(并且也是导电的),则可以使用(AES)。 二次离子质谱 (SIMS)具有一系列用于半导体薄膜的高精度成分测量的应用。 傅立叶变换红外光谱 (FTIR)和 拉曼光谱学 非常适合从有机薄膜中获取化学或分子信息。

请致电 EAG 实验室的成分分析专家讨论您的项目,电话 1 800 366 3867 或填写我们的“请专家与您联系”表格。

为了启用某些功能并改善您的使用体验,此站点将cookie存储在您的计算机上。 请单击“继续”以提供授权并永久删除此消息。

要了解更多信息,请参阅我们的 私隐政策.