X- 선 회절 (XRD)

X 선 회절 법 (XRD)은 결정 성 물질을 특성화하기위한 강력한 비파괴 기술입니다. 결정 구조, 위상, 선호하는 결정 방향(텍스처) 및 평균 입자 크기, 결정도, 변형률 및 결정 결함과 같은 기타 구조적 매개변수에 대한 정보를 제공합니다. 또한 X선 회절 피크는 샘플의 각 격자 평면 세트에서 특정 각도로 회절된 단색 X선 빔의 보강 간섭에 의해 생성됩니다. 피크 강도는 격자 내의 원자 분포에 의해 결정됩니다. 결과적으로, X 선 회절 패턴은 주어진 물질의주기적인 원자 배열의 지문입니다.엘. ICDD의 검색 (국제 회절 데이터 센터)의 X- 선 회절 패턴 데이터베이스는 다양한 결정질 샘플의 위상 식별을 가능하게합니다.

XRD는 스마트 차트

EAG의 다중 X선 회절 시스템에는 위치 정확도에 영향을 주지 않고 분석 요구 사항에 따라 교체할 수 있는 광학 모듈이 장착되어 있습니다. X선 소스의 라인 초점과 포인트 초점 사이를 간단하게 변경하여 필요에 따라 일반 XRD 구성에서 고해상도 XRD 구성으로 간단하게 전환할 수 있습니다. 광학 모듈의 다양한 조합을 통해 분말, 코팅, 박막, 슬러리, 가공 부품 또는 에피택셜 필름을 분석할 수 있습니다. EAG에는 작은 점(<2 µm) XRD용 50D 영역 감지기가 있는 미세 회절계도 있어 작은 X선 빔 크기에서도 우수한 신호 대 잡음을 제공합니다.

XRD 분석의 주요 응용

첫째, 결정상의 식별/정량화
벌크 재료 및 박막의 평균 결정자 크기, 변형률 또는 미세 변형률 효과 측정
박막, 다층 스택 및 제조 부품의 선호 배향(텍스처) 정량화
벌크 재료 및 박막의 비정질 재료에 대한 결정의 비율 결정
다양한 종류의 벌크 및 박막 샘플에 대한 위상 식별
작은 결정상 검출 (~ 1 % 이상의 농도에서)
다결정 필름 및 재료의 결정자 크기 결정
비정질 대비 결정 성 형태의 물질 비율 결정
상 확인을 위해 sub-milligram loose powder 또는 건조 용액 샘플 측정
텍스처 및 위상 동작에 대해 50Å만큼 얇은 필름 분석
에피 택셜 박막의 변형률 및 조성 측정
단결정 재료의 표면 Offcut 결정
마지막으로 벌크 금속 및 세라믹의 잔류 응력 측정

XRD의 강점

첫째, 비파괴
둘째, 위상 및 텍스처 방향의 정량적 측정
셋째, 샘플 준비 요구 사항이 최소화되거나 없음
마지막으로 모든 분석을위한 주변 조건

XRD의 한계

비정질 재료를 식별 할 수 없음
깊이 프로필 정보 없음
~ 25µm의 최소 스팟 크기

기술 사양

신호 감지 됨: 회절 X 선
감지 된 요소: 모든 원소 (결정 매트릭스에 존재한다고 가정)
감지 한계: 정량적 다상 분석 : ~ 1 %
위상 식별을위한 최소 필름 두께: ~ 20Å
깊이 해상도: 재료 특성 및 X 선 입사각에 따라 ~ 20Å ~ ~ 30µm의 샘플링 깊이
이미징 / 매핑: 없음
측면 해상도 / 프로브 크기: 포인트 포커스 : 0.1 mm ~ 0.5 mm; 라인 포커스 2mm ~ 12mm; ~ 20µm까지 미세 회절

또한 당사의 애플리케이션 노트를 읽으십시오. 화합물 반도체의 고분해능 X선 회절(HR-XRD) 측정, 이 방법을 사용하여 화합물의 조성과 두께를 결정하는 방법에 대한 논의 반도체 SiGe, AlGaAs, InGaAs 및 다른 재료와 같은 다른 재료를 포함 할 수있다.

결론적으로 EAG는 고객에게 많은 재료를 분석하는 XRD 서비스를 제공합니다. 또한 빠른 처리 시간, 정확한 데이터 및 개인 간 서비스를 통해 수신 한 정보를 이해할 수 있습니다.

마지막으로, 오늘 800-366-3867로 EAG Laboratories에 연락하거나 양식을 작성하여이 XRD 테스트 서비스를 사용하여 재료를 분석하는 방법에 대해 전문가가 연락하도록하십시오.