X射线衍射(XRD)是一种用于表征结晶材料的强大的非破坏性技术。 它提供有关晶体结构、相、优选晶体取向(纹理)和其他结构参数的信息,例如平均晶粒尺寸、结晶度、应变和晶体缺陷。 此外,X 射线衍射峰是由从样品中每组晶格平面以特定角度衍射的单色 X 射线束的相长干涉产生的。 峰强度由晶格内原子的分布决定。 因此, X射线衍射图案是给定材料中周期性原子排列的指纹湖 搜索ICDD(国际衍射数据中心)X射线衍射图谱数据库能够对多种结晶样品进行相识别。
XRD出现在 智能图表
EAG的多个X射线衍射系统都配备了光学模块,可以根据分析要求进行更换,而不会影响定位精度。 在 X 射线源的线焦点和点焦点之间切换很简单,可以根据需要从常规 XRD 配置简单切换到高分辨率 XRD 配置。 光学模块的不同组合可以分析粉末、涂层、薄膜、浆料、制造部件或外延膜。 EAG 还拥有带有用于小光斑 (<2 µm) XRD 的 50D 区域探测器的微衍射仪,即使在小 X 射线束尺寸下也能提供良好的信噪比。
此外,请阅读我们的应用说明, 化合物半导体的高分辨率 X 射线衍射 (HR-XRD) 测量, 讨论如何使用这种方法来确定化合物的成分和厚度 半导体 例如SiGe,AlGaAs,InGaAs和其他材料。
总之,EAG为我们的客户提供XRD服务,以分析许多材料。 而且,您可以依靠快速的周转时间,准确的数据和人对人的服务来确保您了解所收到的信息。
最后,请立即致电800-366-3867与EAG实验室联系,或填写表格让专家与您联系,以了解我们如何使用此XRD测试服务来分析您的材料。
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